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先进的电子断层扫描技术在材料科学中的发展——基于透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜
李茂华,杨延清,黄斌,罗贤,张伟,韩明,汝继刚
Development of advanced electron tomography in materials science based on TEM and STEM
Mao-huaLI,Yan-qingYANG,BinHUANG,XianLUO,WeiZHANG,MingHAN,Ji-gangRU
中国有色金属学报(英文版) . 2014, (10): 3031 -3050 .